PTTC-300型 高精度微分頭
產品簡介：普天同創生產精密微分頭，硬質合金測量面，平面測頭型式，測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。（可滿足需求定制各類非標微分頭）
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普天同創生產精密微分頭，硬質合金測量面，平面測頭型式，測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。（可定制各類非標微分頭）
位移變化讀數：
L=（a+0.001b+0.0001c）-(a0+0.001b0+0.001c0)
a—內筒毫米刻線讀數
b—外筒刻線讀數
c—游標刻線讀數
a0 b0 c0 為相應位移變化前讀數
微分測量頭讀數內筒軸向刻度 0.5mm/格
微分測量頭讀數外筒圓周刻度 0.005mm/格
微分測量頭精度示值誤差指標 分度值 0.0005mm
精度 ±0.001mm
微分測量頭讀數內筒軸向刻度 0.5mm/格
微分測量頭讀數外筒圓周刻度 0.005mm/格
微分測量頭精度示值誤差指標 分度值 0.0005mm
精度 ±0.001mm
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